Autor: Ferdinand Vrablec; Vedúci záverečnej práce: Ing. Zoltán Záležák, PhD.

Tlačiť

Pri kontrole drsnosti povrchu využívame metódy, ktoré možno zaradiť do kategórií kvalitatívne a kvantitatívne.

Kvalitatívne metódy

Princípom kvalitatívnych metód sledovania drsnosti povrchu, je porovnávanie kontrolovaného povrchu so vzorovým povrchom, ktorého je drsnosť známa. Porovnávať môžeme len povrchy, ktoré sú opracované rovnakým, alebo aspoň podobným spôsobom. Následne dospejeme k výsledku, či kontrolovaná plocha je buď hladšia alebo drsnejšia, respektíve, že je v rozmedzí dvoch po sebe nasledujúcich vzoriek, napríklad 3,2 μm  a 6,3 μm.

Na porovnávanie vzoriek sa využívajú tzv. vzorkovnice (Obr.8). Vzorky sú zoradené do jednotlivých kolekcií obsahujúce etalóny (vzorky). Tieto vzorky sú obrobené rôznymi druhmi obrábania v rôznych stupňoch drsnosti. Porovnávanie vzoriek sa vykonáva hmatom a zrakom. Porovnávanie hmatom umožňuje presnejšie rozlíšenie dvoch drsností. Pri porovnávaní zrakom je možné si dopomôcť lupou, alebo sa využívajú porovnávacie mikroskopy.

 

Vzorkovnica drsností povrchov

 

Kvantitatívne metódy

Výsledkom kvantitatívnej metódy kontroly drsnosti povrchu je číselná hodnota. Táto číselná hodnota sa stanovuje pomocou niektorej veličín Rz, alebo Ra. Meracie prostriedky na zisťovanie drsnosti rozdeľujeme na:

  • mechanické (elektromagnetické),
  • optické.

Mechanické prostriedky

Mechanické, alebo elektromagnetické prostriedky snímajú povrch cez pohyblivý dotyk proti pevnej pätke. Elektronické snímače, ktoré vyhodnocujú veličinu Ra snímajú zmenu polohy snímača. Takéto prostriedky sú označované ako profilomeri, alebo ak majú grafické zariadenie na vnímanie povrchu, sú označené ako profilografy.

Optické prostriedky

Optické meracie prostriedky väčšinou tvoria mikroskopy. Postup merania spočíva v tom, že premeriavame priehlbiny aj výstupky povrchu, ktoré sú sprístupnené mechanickým rezom. Z nameraných hodnôt vypočítame podľa vzorcov hodnoty Ra a Rz.

Dvojité mikroskopy odstraňujú nevýhodu mechanického rezu – poškodenie súčiastky tým, že vytvárajú tzv. svetelný rez. Interferenčné mikroskopy zasa vytvárajú interferenčné pásiky skúmaného povrchu.

Hodnotenie užitočnosti článku:


    Veltrh cvicnych firiem EP je spat Prehlad Fyzika Prehlad Informatika Treti pilier Fotograf_krojov On-line kurzy Ako sa učiť a ako učiť Dejiny sveta Dejiny Slovenska

     

    O VŠETKÝCH KURZOCH 

     

    · Simulácie z fyziky 
    · O Slovensku po slovensky 
    · Slovenské kroje
    · Kurz národopisu
    · Diela maliarov
    · Kontrolné otázky, Domáce úlohy, E-testy - Priemysel
    · Odborné obrázkové slovníky
    · Poradňa žiadaného učiteľa
    · Rýchlokurz Angličtiny
    . Rozprávky (v mp3)
    · PREHĽADY (PRIBUDLO, ČO JE NOVÉ?)
    Seriály:
    · História sveta (1÷6)
    · História Slovenska (1÷5)
    · História módy (1÷5).

                                       
    Členstvo na portáli
    Mám účet a chcem sa prihlásiť Prihlásiť sa
    Nemám účet, ale chcel by som ho získať Registrovať sa
    Poznámka pre autora

    Ak ste na stránke našli chybu, dajte nám vedieť

    Newsletter

    Nenechajte si ujsť žiadny nový článok

    @

    Copyright © 2013-2020 Wesline, s.r.o. Všetky práva vyhradené. Mapa stránky ako tabuľka | Kurzy | Prehľady